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机译:用于电阻RAM的内置自测试结构(BIST)表征:对双极oxRAM的应用
H. Aziza; M. Bocquet; M. Moreau; J-M. Portal;
机译:用于电阻RAM表征的内置自测结构(BIST):在双极OxRRAM中的应用
机译:内置自测(BIST)结构,用于使用电流测试数据诊断模拟电路故障
机译:用于模拟电路故障诊断的备用内置自检(BIST)结构
机译:嵌入式RAM的内置自检和修复(BISTR)技术
机译:用于多阈值NULL约定逻辑(MTNCL)电路的内置自检(BIST)
机译:用于传感器的Gr基磁流变弹性体的材料表征:流变和电阻率特性
机译:neuMOS晶体管在增强的内置自检(BIST)和产品质量中的应用
机译:内置自测(BIST)的随机存取存储器(RAM)的测试接口
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机译:双模ASIC(应用专用集成电路)BIST(内置自测)控制器
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