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METROLOGY ENABLED REFLECTION TRANSFORMATION IMAGING TO RECONSTRUCT LOCAL DETAIL IN MANUFACTURED SURFACES

机译：Metrology使能反射变换成像以重建制造表面中的本地细节

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S. Robson; L. MacDonald; B. Sargeant;
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年度 2020
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1. METROLOGY ENABLED REFLECTION TRANSFORMATION IMAGING TO RECONSTRUCT LOCAL DETAIL IN MANUFACTURED SURFACES [J] . S. Robson, L. MacDonald, B. Sargeant International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences . 2020,第4期

机译：Metrology使能反射变换成像以重建制造表面中的本地细节
2. Nanoscale Metrology: Scatterfield optical imaging enables sub-10 nm dimensional metrology [J] . RICHARD M. SILVER Laser Focus World: The Magazine for the Photonics & Optoelectronics Industry . 2009,第1期

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3. Total internal reflection fluorescence based multiplane localization microscopy enables super-resolved volume imaging [J] . Partha Pratim Mondal, Samuel T. Hess Applied Physics Letters . 2017,第21期

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4. Estimation of the error of the algorithm for reconstructing the reflection coefficient of the Earth surface on the example of images with the low atmospheric turbidity [C] . V. V. Belov, M. V. Tarasenkov International symposium on atmospheric and ocean optics: atmospheric physics . 2015

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5. Metrology and Biomedical Applications for Terahertz Reflection Spectroscopy and Imaging [D] . Fan, Shuting. 2015

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6. Electrochemical and Photon Polarization Modulation Infrared Reflection Absorption Spectroscopy Study of the Electric Field Driven Transformations of a Phospholipid Bilayer Supported at a Gold Electrode Surface [O] . I. Zawisza, A. Lachenwitzer, V. Zamlynny, 2003

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7. In Situ Delineation Etch Reveals Subtle Detail in SEM Images of Ion Milled Cross Sections Enabling In-Fab 3-D Metrology and Characterization [O] . Clive Chandler 2000

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