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論理回路のテストパターン生成手法に関する研究

机译：逻辑电路测试图生成方法的研究

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梶原誠司; カジハラセイジ;
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年度 2017
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专利

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机译：考虑参数值约束的随机测试测试用例生成方法
2. パラメータ値に関する制約を考慮したランダムテストのためのテストケース生成手法 [J] . 田中真吾, 小島英春, 土屋達弘電子情報通信学会技術研究報告. ディペンダブルコンピュ-ティング. Dependable Computing . 2012,第270期

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3. パラメータ値に関する制約を考慮したランダムテストのためのテストケース生成手法 [J] . 田中真吾, 小島英春, 土屋達弘電子情報通信学会技術研究報告. ディペンダブルコンピュ-ティング. Dependable Computing . 2012,第270期

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