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【2h】

Binary phase masks for easy system alignment and basic aberration sensing with spatial light modulators in STED microscopy

机译：二进制相位掩模，用于易于系统对齐和基本像差检测，其具有STED显微镜中的空间光调制器

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André Klauss; Florian Conrad; Carsten Hille;
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年度 2017
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