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机译:热原子损坏(曾)有限的铁电记忆的TDDB寿命
Muhammad Masuduzzaman; Muhammad Ashraful Alam;
机译:全芯片面向线的后端TDDB热点检测和寿命分析
机译:静态和动态热载流子加速TDDB:影响因素和对产品寿命的影响
机译:铁电器件热原子损伤的观察与控制
机译:热原子损伤(HAD)限制了铁电存储器的TDDB寿命
机译:终身有限的记忆神经网络
机译:较长的内存寿命需要复杂的突触和有限的稀疏性
机译:半导体中的人造Rb原子,具有寿命限制的线宽
机译:光伏铁电半导体非易失性存储器的研究
机译:用于控制具有有限空间的存储器的数字照相照相设备,记录该照相介质的记录介质以及根据该照相照相设备进行相同操作的数字照相照相设备的方法,该照相照相设备能够有效地管理具有有限空间的存储器
机译:使用寿命有限的内存设备的损耗均衡和坏块管理
机译:具有有限预期寿命的可修改存储设备
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