机译:中子诱导的裂变横截面测量234U,用Micromegas探测器在keV和MEV范围内用单体射线射线测量
机译:使用微米检测器在keV和MeV范围内用准单能束测量234U的中子诱发裂变截面
机译:使用MicromeGAS检测器组件测量与keV和MEV范围中的准单元束的u-234(n,f)横截面
机译:单体终端光子诱导的U-235,U-238和PU-239的裂变横截面比率测量从9.0至17.0 mev
机译:中子诱导的〜(205)T1,〜(204,206,207,208)Pb和209Bi的测量,在能量范围35-174 mev中使用准单元素中子
机译:235U(n,f)的瞬变裂变中子能谱的测量和238U(n,f)的中子诱发裂变截面的测量
机译:高分辨率光谱仪可在6 keV至15 keV的能量范围内扩展X射线吸收精细结构的测量
机译:使用Micromegas探测器的keV和MEV系列中的Quasi-monoeNergetic梁234u的中子诱导的裂变横截面测量