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【2h】

Investigations on frequency shift probes for monitoring of electron conditions in nano-materials processing plasmas

机译：用于监测纳米材料处理等离子体中电子条件的移频探头的研究

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Nakamura Keiji; Sugai Hideo;
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年度 2013
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1. Investigations on frequency shift probes for monitoring of electron conditions in nano-materials processing plasmas [J] . NAKAMURA Keiji, SUGAI Hideo Transactions of JWRI . 2010,第2期

机译：用于监测纳米材料处理等离子体中电子条件的移频探头的研究
2. Frequency shift of the propagating ultraintense field in a plasma with a fraction of electron-positron pairs under the conditions of response saturation [J] . Shiryaev O.B. Physics of plasmas . 2013,第5aPta1期

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3. A simple hollow probe for monitoring ion-beam energy in processing plasmas [J] . Y Ohtsu, N Wakita Measurement Science & Technology . 2010,第12期

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