机译：图案化薄膜介质的记录，噪声和伺服特性
机译：铁磁薄膜的剩余磁化强度对MOS晶体管Ⅰ-Ⅴ特性的影响：跨栅极区域的圆形和相反图案的铁磁薄膜的Ⅰ-Ⅴ特性
机译：垂直磁记录介质上沉积在Pt-Ta底层上的溅射沉积Ba-铁氧体薄膜的制备和记录特性
机译：铁磁薄膜反弹磁化对MOS晶体管I-V特性的影响：围绕栅极区域的圆形和相对图案化铁磁薄膜的I-V特征
机译：用于磁记录头的软高矩铁钴镍薄膜合金的电沉积和表征。
机译：具有图案化NiFe薄膜的双平面微电感器的DC / DC集成特性
机译：用于磁记录薄膜头的多层渗透膜膜的磁畴结构。
