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【2h】

Optical Analysis of Magnetization Process Dependence on Film Depth for Perpendicular Thin-Film Media.

机译：磁化过程的光学分析依赖于膜深度膜深度薄膜介质。

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S. Saito; Y. Hatta; M. Takahashi;
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年度 2001
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1. Optical Analysis of Magnetization Process Dependence on Film Depth for Perpendicular Thin-Film Media [J] . S.Saito, Y.Hatta, M.Takahashi 日本応用磁気学会誌 . 2001,第4a2期

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