机译:大角度硅漂移探测器X射线检测性能的实际测量在新开发的300 kV旋转校正大臂上定量分析
机译:使用带有300 kV冷场发射枪的大角度会聚电子探针对硅晶体进行定量环形暗场STEM图像。
机译:使用大角度会聚电子探针和300 kV冷场发射枪对硅晶体进行定量环形暗场STEM图像
机译:硅漂移探测器在钾原子X射线测量中的性能
机译:硅漂移X射线检测器在SEM平台图像分析中的实际应用:BRUKER-MLA实践
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:在像差校正杆中大型固角硅漂移检测器的X射线检测性能的实际测量
机译:采用锂离子扫描硅探测器系统对某些超导元件进行低能X射线测量,