机译:具有环形硅漂移探测器的场发射扫描电子显微镜中的高空间分辨率定量X射线微分析
机译:在传输模式下,在扫描电子显微镜中用环形硅漂移检测器应用于电子通道诱导的X射线成像的定性F比法
机译:扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散光谱(SEM / SDD-EDS)和NIST DTSA-II对硼化物,碳化物,氮化物,氧化物和氟化物的电子激发X射线定量分析
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:在场发射扫描电子显微镜中使用低压X射线显微分析表征金属-陶瓷界面
机译:定量材料与新型近场扫描微波显微镜在高空间分辨率下形成对比。
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:使用扫描电子显微镜和X射线能谱仪进行定量电子探针微量分析