机译：通过在扫描莫尔条纹成像中对扫描光栅应用整数倍，可重现电子设备中的应变测量
机译：实用和可重现的硅器件中应变的映射，使用来自扫描透射电子显微镜的环形暗场图像的几何相位分析
机译：高角度环形暗场扫描电子透射显微镜用于半导体器件的绝缘体上硅生成的应变映射
机译：局部晶格应变测量使用扫描透射电子显微镜的暗场图像几何相位分析
机译：使用电子探针X射线显微分析和扫描透射电子显微镜对单个水悬浮颗粒进行表征。
机译：纳米填充微填充和混合复合材料上不同精加工和抛光设备的比较分析：扫描电子显微镜和轮廓测量法
机译：扫描云纹条纹成像中扫描光栅应用整数倍的电子器件可重复应变测量
