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【2h】

Tuning Fork Scanning Probe Microscopes - Applications for the Nano-Analysis of the Material Surface and Local Physico-Mechanical Properties

机译：调谐叉扫描探头显微镜 - 材料表面和局部物理机械性能纳米分析的应用

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作者
Vo Thanh; S.A. Chizhik; Tran Xuan; Nguyen Trong; V.V. Chikunov;
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年度 2012
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1. Development of a scanning probe microscope compact sensor head featuring a diamond probe mounted on a quartz tuning fork [J] . James W G Tyrrell, Dmitri V Sokolov, Hans-Ulrich Danzebrink Measurement Science & Technology . 2003,第12期

机译：开发了扫描探针显微镜紧凑型传感器头，其特征是将金刚石探针安装在石英音叉上
2. A Method for Manufacturing a Probe for a Combined Scanning Tunneling and Atomic-Force Microscope on the Basis of a Quartz Tuning Fork with a Supersharp Metal Tip [J] . V. V. Dremov, I. Y. Jumh, H. A. Maharramov, Instruments and Experimental Techniques . 2013,第5期

机译：基于具有超锐利金属尖端的石英音叉的组合式扫描隧道和原子力显微镜探针的制造方法
3. High-spatial-resolution scanning capacitance microscope using all-metal probe with quartz tuning fork [J] . Naitou Y, Ookubo N Applied Physics Letters . 2004,第11期

机译：使用全金属探头和石英音叉的高分辨率扫描电容显微镜
4. Development of a metrological scanning probe microscope incorporating a quartz tuning fork sensor and heterodyne laser interferometry [C] . Herrmann Jan, Babic Bakir, Freund Chris, Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), 2012 IEEE International . 2012

机译：结合石英音叉传感器和外差激光干涉仪的计量扫描探针显微镜的开发
5. Probing microscopic properties of low-dimensional inorganic materials using scanning probe microscopes. [D] . Liu, Jie. 1996

机译：使用扫描探针显微镜探测低维无机材料的微观特性。
6. Sensing Performance Analysis on Quartz Tuning Fork-Probe at the High Order Vibration Mode for Multi-Frequency Scanning Probe Microscopy [O] . Xiaofei Zhang, Fengli Gao, Xide Li 2018

机译：多频扫描探针显微镜高阶振动模式下石英音叉探针的传感性能分析
7. Reverse electrochemical etching method for fabricating ultra-sharp platinum/iridium tips for combined scanning tunneling microscope/ atomic force microscope based on a quartz tuning fork [O] . Morán-Meza, José A., Polesel-Maris, Jérôme, Lubin, Christophe, 2015

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