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【2h】

Development of Automatic Magnification Calibration Function for Scanning Transmission Electron Microscope

机译：扫描透射电子显微镜自动放大校准函数的研制

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H Inada; D Terauchi; M Ozawa; R Tsuneta; H Tanaka; M Konno; S I Watanabe; S Aizawa; K Nakamura; A Takane;
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年度 2005
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3. Calibration of Scanning Electron Microscopes over a Wide Range of Magnifications [J] . Kirtaev R. V., Kuzin A. Yu., Maslov V. G., Measurement techniques . 2017,第12期

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