机译:高分辨率SEM / EDX在透射模式下检查单个纳米颗粒的形貌和元素成像
机译:配备透射模式(TSEM)的高分辨率SEM / EDX系统对球形纳米粒子的尺寸和尺寸分布进行成像和测量的性能
机译:开发具有高工作温度的大面积Si(Li)探测器的量产模型
机译:通过传输模式的高分辨率SEM / EDS表征纳米颗粒
机译:校准计算机化的SEM-EDS系统,以用于分析逐颗粒基础上的煤中无机成分(微束,检测器)
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:具有高效温度的大面积Si(Li)探测器的大规模生产模型
机译:使用大面积锗探测器探测低能光子的早期操作经验