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机译:IR的两层薄膜的厚度测量
Akitaka SENUMA; Jun-ichi HAKOZAKI;
机译:差分厚度层电阻测量方法,用于测量有机半导体薄膜的接触电阻
机译:基于光度成像椭圆偏振法的3D多层膜厚度分布测量
机译:原子力显微镜原位测量多层聚合物薄膜的厚度
机译:使用AFM逐层测量聚(邻甲氧基苯胺)薄膜的厚度和粗糙度
机译:对影响微层共挤薄膜层厚均匀性和层破裂的因素的研究。
机译:使用眼表干涉仪对泪管阻塞患者进行泪膜脂质层厚度测量的评估
机译:利用远程红外检测定量测量冰层的厚度
机译:au夹层Cr单层厚膜的磁性测量
机译:用于确定液体密度的装置具有两个声音测量体积,其具有第一和第二厚度的液体层。第二层膜厚是第一层膜的2至10倍
机译:一种用于校准厚度测量装置的方法和用于厚度测量的厚度测量装置。监视层的厚度,带,膜等。
机译:彩色滤光片层和第二片绝缘膜的电致发光显示装置具有重叠的长度,大于阳极层厚度和第一片绝缘膜的厚度之和
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