首页> 外文OA文献 >Specimen heating holder for high temperature high resolution transmission electron microscopy and its application.

【2h】

Specimen heating holder for high temperature high resolution transmission electron microscopy and its application.

机译：用于高温高分辨率透射电子显微镜的试样加热保持器及其应用。

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Takeo KAMINO; Kishio HIDAKA;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2000
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. 先进的电子断层扫描技术在材料科学中的发展--基于透射电子显微镜和扫描透射电子显微镜 [J] . 李茂华, 杨延清, 黄斌, 中国有色金属学报（英文版） . 2014,第010期
2. 先进的电子断层扫描技术在材料科学中的发展——基于透射电子显微镜和扫描透射电子显微镜 [J] . 李茂华, 杨延清, 黄斌, 中国有色金属学报：英文版 . 2014,第010期
3. Time-resolved high-resolution transmission electron microscopy using a piezo-driving specimen holder for atomic-scale mechanical interaction [J] . Kizuka T., Deguchi S., Naruse M., Microscopy and microanalysis: The official journal of Microscopy Society of America, Microbeam Analysis Society, Microscopical Society of Canada . 1998,第3期

机译：时间分辨的高分辨率透射电子显微镜，使用压电驱动样品架进行原子级机械相互作用
4. A novel sample holder allowing atomic force microscopy on transmission electron microscopy specimen grids: repetitive, direct correlation between AFM and TEM images. [J] . Lin AC, Goh MC Journal of Microscopy . 2002,第Pta2期

机译：一种新颖的样品架，允许在透射电子显微镜标本网格上进行原子力显微镜检查：AFM和TEM图像之间的重复直接相关。
5. A novel sample holder allowing atomic force microscopy on transmission electron microscopy specimen grids: repetitive, direct correlation between AFM and TEM images [J] . Lin AC., Goh MC. Journal of Microscopy . 2002,第Pta2期

机译：一种新颖的样品架，允许在透射电子显微镜标本网格上进行原子力显微镜检查：AFM和TEM图像之间的重复直接相关
6. Broad ion beam milling of focused ion beam prepared transmission electron microscopy cross-section specimens for high resolution electron microscopy using silicon support membranes [C] . R M Langford, D Ozkaya, B Huey, Royal Microscopical Society Conference, Mar 25-29, 2001, Oxford University . 2001

机译：聚焦离子束制备的透射电子显微镜截面样品的宽离子束铣削，用于使用硅支撑膜的高分辨率电子显微镜
7. III-V compound semiconductor material characterization of microstructures and nanostructures on various optoelectronic devices with analytical transmission electron microscopy and high resolution electron microscopy . [D] . Zhou, Wei. 2004

机译：III-V型化合物半导体材料表征的各种光电子器件的微结构和纳米结构的分析透射电子显微镜和高分辨率电子显微镜。
8. In-Situ High-Resolution Transmission Electron Microscopy Investigation of Overheating of Cu Nanoparticles [O] . Chunlin Chen, Ziyu Hu, Yanfen Li, -1

机译：铜纳米粒子过热的原位高分辨率透射电镜研究
9. Environmental Transmission Electron Microscopy Using a Conventional TEM and a Gas Injection-Specimen Heating Holder [O] . T Kamino, T Yaguchi, A Watabe, 2006

机译：使用常规TEM和气体注入样本加热支架的环境透射电子显微镜

Specimen heating holder for high temperature high resolution transmission electron microscopy and its application.

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅