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【2h】

Atomistic Study of Lateral Charge Diffusion Degradation During Program/Erase Cycling in 3-D NAND Flash Memory

机译：3-D NAND闪存中程序/擦除循环期间横向电荷扩散劣化的原子研究

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Jixuan Wu; Jiezhi Chen; Xiangwei Jiang;
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年度 2019
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