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【2h】

Determination of the temperature coefficient of resistance from micro four-point probe measurements

机译：微四点探针测量测定抗性温度系数

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Thomas A. Marangoni; Benny Guralnik; Kasper A. Borup; Ole Hansen; Dirch H. Petersen;
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年度 2021
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1. Direct detection of grain boundary scattering in damascene Cu wires by nanoscale four-point probe resistance measurements [J] . Yusuke Kitaoka, Takeshi Tono, Shinya Yoshimoto, Applied Physicsletters . 2009,第5期

机译：纳米级四点探针电阻测量直接检测镶嵌铜线中的晶界散射
2. Four-point probe resistance measurements using Ptlr-coated carbon nanotube tips [J] . Yoshimoto S, Murata Y, Kubo K, Nano letters . 2007,第4期

机译：使用涂有Ptlr的碳纳米管尖端进行四点探针电阻测量
3. Electrical Contact Formation in Micro Four-Point Probe Measurements [J] . Steven Folkersma, Janusz Bogdanowicz, Dirch H. Petersen, Physica status solidi . 2020,第5期

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5. Fabrication of atomic force microscope probes integrated with electrodes for micro four-point probe and SECM-AFM. [D] . Shin, Heungjoo. 2006

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6. In situ full-field measurement of surface oxidation on Ni-based alloy using high temperature scanning probe microscopy [O] . Yan Li, Xufei Fang, Zhe Qu, -1

机译：使用高温扫描探针显微镜原位全场测量镍基合金表面的氧化
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8. TOPICAL REPORT: DETERMINATION OF TRANSIENT HEAT TRANSFER COEFFICIENTS AND THE RESULT SURFACE HEAT FLUX FORM INTERNAL TEMPERATURE MEASUREMENTS [R] . R. J. Muzzy, J. H. Avila, D. E. Root 1975

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