机译:完全差分4-V输出范围14.5-ENOB逐步斜坡刺激发生器,用于ADC的片上静态线性测试
机译:全差分4V输出范围14.5-ENOB逐步斜坡激励发生器,用于ADC的片内静态线性测试
机译:65nm CMOS斜坡发生器设计及其在流水线ADC的降码静态线性测试技术的BIST实现中的应用
机译:片内斜坡发生器,用于混合信号BIST和ADC自检
机译:用于ADC静态BIST应用的片上逐步斜坡发生器的设计
机译:基于自适应非线性斜坡发生器和双差分自动归零技术的全差分流水线采样量化的高度线性CMOS图像传感器设计
机译:片内激励发生器,用于宽带射频前端的增益,线性度和阻塞轮廓测试