首页> 外文OA文献 >Основные положения теории высоколокального сканирующего СВЧ нагрева полупроводников и диэлектриков
【2h】

Основные положения теории высоколокального сканирующего СВЧ нагрева полупроводников и диэлектриков

机译:半导体和电介质高频扫描微波加热理论的主要规定

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。
获取外文期刊封面目录资料

摘要

В работе развиты предшествующие теоретические и экспериментальные исследования локального СВЧ нагрева полупроводников, диэлектриков и биообъектов. В результате сформулированы положения, оценивающие зависимость кинетики и локальности нагрева от длительности воздействующего СВЧ импульса, термодинамических характеристик объекта и геометрии острия СВЧ зонда. Показано, что при сферической форме острия локальность установления температуры в приповерхностной области объекта под СВЧ зондом характеризуется малоизменяющимся микронным объемом (порядка 1 мкм3) при радиусе сферы от 1 до примерно 100 мкм. При радиусе сферы менее 1 мкм локальность становится субмикронной и улучшается с уменьшением радиуса. Длительность воздействия слабо влияет на локальность при сферической форме острия. При острие конической формы имеет место прямая зависимость локальности от радиуса острия и существенна делокализация с увеличением длительности воздействия. Отдельно представлены зависимости кинетики от физических параметров объекта.
机译:在这项工作中,以前对半导体,电介质和生物物体进行局部微波加热的理论和实验研究得到了发展。结果,制定了规定来评估加热的动力学和局部性对作用的微波脉冲的持续时间,物体的热力学特性以及微波探针的尖端的几何形状的依赖性。结果表明,在尖端呈球形的情况下,微波探头下方物体近表面区域的温度局部性的特征是球面半径为1至约100μm的微米级体积变化较小(约为1μm3)。球体半径小于1μm时,局部性将变为亚微米级,并且随着半径的减小而提高。暴露的持续时间对尖端的球形几乎没有影响。对于圆锥形的点,局部性直接依赖于该点的半径,并且随着暴露时间的增加,离域很明显。分别给出了动力学对物体物理参数的依赖性。

著录项

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号