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【2h】

Simulating total-dose and dose-rate effects on digital microelectronics timing delays using VHDL

机译：使用VHDL模拟数字微电子定时延迟的总剂量和剂量效应

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C.P. Brothers; R.D. Pugh;
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年度 1995
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1. Simulating total-dose and dose-rate effects on digital microelectronics timing delays using VHDL [J] . Brothers C.P. Jr., Pugh R.D. IEEE Transactions on Nuclear Science . 1995,第6期

机译：使用VHDL模拟总剂量和剂量率对数字微电子学时序延迟的影响
2. Dose-rate effects on the total-dose threshold-voltage shift of power MOSFETs [J] . Schrimpf R.D., Wahle P.J. IEEE Transactions on Nuclear Science . 1988,第6期

机译：剂量率对功率MOSFET总剂量阈值电压漂移的影响
3. On the nature and inadequacies of transport timing delay constructs in VHDL descriptions [J] . Walker P.A., Ghosh S. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems . 1997,第8期

机译：VHDL描述中的传输定时延迟构造的性质和不足之处
4. Rapid and accurate timing simulation of radiation-hardened digital microelectronics using VHDL [C] . Brothers, C.P., Jr., . 1994

机译：使用VHDL的辐射硬化数字微电子器件的快速准确的时序仿真
5. Rapid and accurate timing simulation of radiation-hardened digital microelectronics using VHDL. [D] . Brothers, Charles Paskel, Jr. 1994

机译：使用VHDL对辐射硬化的数字微电子器件进行快速准确的时序仿真。
6. Investigation of dose-rate effects and cell-cycle distribution under protracted exposure to ionizing radiation for various dose-rates [O] . Yusuke Matsuya, Stephen J. McMahon, Kaori Tsutsumi, -1

机译：在各种剂量率下长时间暴露于电离辐射下的剂量率效应和细胞周期分布的研究
7. Statistical delay estimation in digital circuits using VHDL [O] . Milić Miljana Lj., Litovski Vančo B. 2014

机译：使用VHDL的数字电路中的统计延迟估计

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