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Performance limits of terahertz zero biased rectifying detectors for direct detection

机译:太赫兹零偏整流检测器的性能极限

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摘要

Performance limits of uncooled unbiased field effect transistors (FETs) and Schottky-barrier diodes (SBDs) as direct detection rectifying terahertz (THz) detectors operating in the broadband regime have been considered in this paper. Some basic extrinsic parasitics and detector-antenna impedance matching were taken into account. It has been concluded that, in dependence on radiation frequency, detector and antenna parameters, the ultimate optical responsivity (ℜopt) and optical noise equivalent power (NEPopt) of FETs in the broadband detection regime can achieve ℜopt ~ 23 kV/W and NEPopt ~ 1⋅10⁻¹² W/Hz¹/², respectively. At low radiation frequency ν in the THz spectral region the NEPopt of SBD detectors can be better by a factor of ~1.75 as compared to that of Si MOSFETs (metal oxide semiconductor FETs) and GaAlN/GaN HFETs (heterojunction FETs) with comparable device impedances.
机译:本文考虑了在宽带状态下运行的非冷却无偏场效应晶体管(FET)和肖特基势垒二极管(SBD)作为直接检测整流太赫兹(THz)检测器的性能极限。考虑了一些基本的外部寄生效应和检波器-天线阻抗匹配。得出的结论是,根据辐射频率,检测器和天线参数,在宽带检测方案中,FET的最终光响应率(ℜopt)和光噪声等效功率(NEPopt)可以达到ℜopt〜23 kV / W和NEPopt〜分别为1⋅1010²W / Hz¹/²。在THz频谱区域中的低辐射频率ν下,与具有可比器件阻抗的Si MOSFET(金属氧化物半导体FET)和GaAlN / GaN HFET(异质结FET)相比,SBD检测器的NEPopt可以提高约1.75倍。 。

著录项

  • 作者

    Golenkov A.G.; Sizov F.F.;

  • 作者单位
  • 年度 2016
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 en
  • 中图分类

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