机译:基于SEM和TEM的电子衍射取向测量,确定晶体学元素的计算方法:界面平面,表面平面和孪生元素
机译:改进的垂直布里奇曼法生长低刻蚀坑密度的ZnGeP_2晶体
机译:确定超导外延膜晶体学完美度的方法
机译:测定晶体成分:界面平面,表面平面和孪晶元件的计算方法,基于SEM和TEM的电子衍射取向测量
机译:具有分裂和晶体学刻蚀面的氮化镓基激光器的制造和表征。
机译:一种从常规无法解释的电子密度中提取模糊晶体状态的多晶方法
机译:锌单晶位错蚀刻剂的晶体学依赖性
机译:一种用于分析si薄膜晶体取向的蚀刻坑技术。