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【2h】

Null method for four-point probe measurement using high resistance probes

机译：使用高电阻探头的四点探针测量的空方法

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作者
Makoto Ishikawa; Masamichi Yoshimura; Kazuyuki Ueda;
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年度 2006
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1. Direct detection of grain boundary scattering in damascene Cu wires by nanoscale four-point probe resistance measurements [J] . Yusuke Kitaoka, Takeshi Tono, Shinya Yoshimoto, Applied Physicsletters . 2009,第5期

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2. Four-point probe resistance measurements using Ptlr-coated carbon nanotube tips [J] . Yoshimoto S, Murata Y, Kubo K, Nano letters . 2007,第4期

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3. Uncertainty Improvements of Metallic Resistivity Measurements by the Four-Point Probe Method [J] . Kwang Min Yu, Jeon Hong Kang, Han Jun Kim, Key Engineering Materials . 2006,第Pt2期

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5. Fabrication of atomic force microscope probes integrated with electrodes for micro four-point probe and SECM-AFM. [D] . Shin, Heungjoo. 2006

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