Некоторые особенности оптического, магнитного и вихретокового методов контроля поверхностного слоя деталей из проводящего и непроводящего материалов

摘要

Изложены результаты разработок магнитного, вихретокового и оптического интерференционного методов контроля поверхностного слоя деталей, полученные в Институте магнетизма НАН и МОН Украины.