首页> 外文OA文献 >Ударная ионизация в коротких диодах на основе AlzGa1–zN
【2h】

Ударная ионизация в коротких диодах на основе AlzGa1–zN

机译:基于AlzGa1 – zN的短二极管的碰撞电离

摘要

Освоение миллиметрового и терагерцевого диапазонов является одной из актуальных задач радиофизики. Однако на сегодняшний день набор активных элементов, способных работать в указанных диапазонах, ограничен. Ударная ионизация в широко-зонных нитридных соединениях является быстропротекающим процессом и может быть использована в активных элементах указанных диапазонов. В данной работе исследуется перенос заряда в коротких (с длиной активной области менее 0,3 мкм) диодных структурах на основе AlzGa1–zN с целью определения условий возникновения и особенностей ударной ионизации, а так же ее влияния на характеристики приборов. Показана возможность получения локализованной области с высокой напряженностью электрического поля, достаточной для возникновения ударной ионизации и управления ею путем изменения распределения состава AlzGa1–zN по длине диода. Результатом исследований является определение основных закономерностей развития ударной ионизации в предложенных диодных структурах. Они являются ориентиром для дальнейшего детального анализа физических процессов и практической реализации таких структур.
机译:掌握毫米和太赫兹范围是放射物理学的紧迫任务之一。但是,迄今为止,能够在这些范围内工作的有源元件组受到限制。宽带氮化物化合物中的碰撞电离是一种快速流动的过程,可用于指定范围的活性元素。在这项工作中,我们研究基于AlzGa1-zN的短(有源区长度小于0.3μm的)二极管结构的电荷转移,以确定碰撞电离的发生条件和特性,以及其对器件特性的影响。通过改变AlzGa1-zN成分沿二极管长度方向的分布,可以得到具有足以产生碰撞电离的高电场强度的局部区域的可能性,并进行控制。研究的结果是确定所提出的二极管结构中碰撞电离发展的基本规律。它们是进一步详细分析物理过程以及此类结构的实际实施的指南。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号