Квазиоптический субтерагерцевый рефлектометр внутреннего отражения для неразрушающего контроля углепластиков

摘要

В данной работе рассмотрен метод рефлектометрии внутреннего отражения при наклонном облучении поверхности углепластиков квазиоптическим (КО) пучком под разными углами через призму внутреннего отражения, расположенную вблизи поверхности образца. Для реализации метода разработана КО измерительная установка, выполненная на основе полого диэлектрического лучевода и комплекса лучеводных устройств и компонентов ТГц диапазона. Проведены экспериментальные тестирования образцов композитных материалов, показавшие значительное возрастание контраста при обнаружении загрязнений. При технической доработке рефлектометр может быть использован на практике.