首页> 外文OA文献 >Pyroelectric response of inhomogeneous ferroelectric-semiconductor films
【2h】

Pyroelectric response of inhomogeneous ferroelectric-semiconductor films

机译:非均匀铁电半导体薄膜的热电响应

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

We have modified Landau-Khalatnikov approach and shown that the pyroelectric response of inhomogeneousudferroelectric-semiconductor films can be described by using six coupled equations for the average displacement,udits mean-square fluctuation and correlation with charge defects density fluctuations, average pyroelectricudcoefficient, its fluctuation and correlation with density fluctuations of charged defects.udCoupled equations demonstrate the inhomogeneous reversal of pyroelectric response in contrast to the equationsudof Landau-Khalatnikov type, which describe the homogeneous reversal with sharp pyroelectric coefficientudpeaks near the thermodynamic coercive field values. Our approach explains pyroelectric loops observed inudPb(Zr,Ti)O₃ film.
机译:我们对Landau-Khalatnikov方法进行了改进,结果表明,可以使用六个耦合方程式来描述非均质 uuuuelectric_semiconductor薄膜的热电响应,其平均位移, udit均方差以及与电荷缺陷密度起伏,平均热电势的相关性 ud耦合方程式说明了热电响应的不均匀逆转,与Landau-Khalatnikov类型的方程 udof相反,Landau-Khalatnikov型方程式描述了具有陡峭热电系数的均匀逆转靠近热力学矫顽力的udpeaks字段值。我们的方法解释了在 udPb(Zr,Ti)O₃薄膜中观察到的热电回路。

著录项

  • 作者

    Morozovska A.N.;

  • 作者单位
  • 年度 2007
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 en
  • 中图分类

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号