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Scanning Kelvin Probe Microscopy Reveals Planar Defects Are Sources of Electronic Disorder in Organic Semiconductor Crystals

机译：扫描塞尔文探针显微镜显示平面缺陷是有机半导体晶体中电子疾病的来源

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Yanfei Wu; Xinglong Ren; Kathryn A. McGarry; Matthew J. Bruzek; Christopher J. Douglas; C. Daniel Frisbie;
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年度 2017
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