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Publisher's Note: “Nanoscale study of the current transport through transrotational NiSi/n-Si contacts by conductive atomic force microscopy” Appl. Phys. Lett. 101, 261906 (2012)

机译：发行商注意事项：“通过转发NISI / N-Si接触通过导电原子力显微镜显微镜的纳米级研究”Appl。物理。吧。 101,261906（2012）

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Alessandra Alberti; Filippo Giannazzo;
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年度 2013
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机译：出版商的注意事项：“NI2SI转型域的NISI成核和生长”APPL。物理。吧。 90,053507（2007）

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