机译:单次角度分辨光谱反射测量法的多层膜的瞬时厚度测量
机译:从光谱测量中提取薄膜的光学参数以用于多层结构的设计和光学性能
机译:自组装多层金膜上的质量和电荷平衡。使用光学反射仪和石英晶体微量天平进行测量
机译:结合使用低相干干涉测量技术和光谱分辨反射测量技术,可无损表征小直径高纵横比的微加工和微加工结构以及多层膜
机译:开发使用高光谱图像分析确定聚合物薄膜配方中药物分布的方法
机译:同时测量多层膜结构中的上表面及其下层膜表面
机译:多层薄膜结构中顶表面及其下膜表面的同时测量
机译:多层结构对光谱分布的修正