首页> 外文OA文献 >Mode-Matching Analysis of Lossy SIW Devices
【2h】

Mode-Matching Analysis of Lossy SIW Devices

机译:损失SIW设备的模式匹配分析

代理获取
本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务,本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文,但由于OA文献来源多样且变更频繁,仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况,如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

摘要

In this paper, we present a method for the analysis of lossy substrate-integrated waveguide structures. The analysis is achieved through the cylindrical-wave mode expansion of the field and a mode matching technique to enforce boundary conditions on the post surfaces. We introduce an approximated formulation of the previous exact procedure, valid in the microwave regime, and numerically examine a number of microwave devices using both approximated and exact analyses. These devices include filters, couplers, phase shifter, and so on. Results are presented for the scattering parameters and compared with those obtained with the commercial software in terms of accuracy and computational time.
机译:在本文中,我们提出了一种分析有损基板 - 集成波导结构的方法。通过场的圆柱波模式扩展和模式匹配技术来实现分析,以在柱表面上强制边界条件。我们介绍了先前精确程序的近似配方,在微波制度中有效,并且使用近似和精确分析来数量地检查多个微波设备。这些设备包括滤波器,耦合器,移相器等。结果显示散射参数,并与在准确性和计算时间方面与商业软件获得的结果相比。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
代理获取

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号