机译:通过扫描微波显微镜对半导体进行纳米表征的去嵌入技术
机译:APS -APS 2017年3月会议-活动-使用扫描微波阻抗显微镜(sMIM)表征半导体器件中掺杂剂和电介质中的缺陷
机译:金属氧化物半导体电容器和肖特基二极管的扫描微波显微镜研究在18 GHz
机译:使用微波阻抗显微镜延伸半导体器件的电扫描探针显微镜测量
机译:烷烃硫醇自组装单分子层,反应性自组装单分子层,扁平金纳米颗粒/铟锡氧化物基质的生长介质和温度依赖性结构相的扫描隧道显微镜研究,以及互补金属氧化物中局部机械应力表征的扫描表面光电压显微镜研究半导体器件。
机译:使用扫描液滴细胞显微镜对亚微克量的有机半导体进行电化学表征
机译:通过扫描扩散显微镜和扫描频率梳理显微镜通过扫描载体分析半导体分辨率
机译:半导体纳米结构的扫描微观发光和近场光学扫描显微镜(aasERT奖)