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Selective-area growth of heavily n–doped GaAs nanostubs on Si(001) by molecular beam epitaxy

机译:分子束外延对Si(001)的重质N-掺杂GaAsnostubs的选择性区生长

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摘要

Using an aspect ratio trapping technique, we demonstrate molecular beam epitaxy of GaAs nanostubs on Si(001) substrates. Nanoholes in a SiO2 mask act as a template for GaAs-on-Si selective-area growth(SAG) of nanostubs 120 nm tall and ≤100 nm in diameter. We investigate the influence of growthparameters including substrate temperature and growth rate on SAG. Optimizing these parameters results in complete selectivity with GaAsgrowth only on the exposed Si(001). Due to the confined-geometry, strain and defects in the GaAs nanostubs are restricted in lateral dimensions, and surface energy is further minimized. We assess the electrical properties of the selectively grownGaAs nanostubs by fabricating heterogeneous p+–Si/n+–GaAs p–n diodes.
机译:使用纵横比捕获技术,我们证明了在Si(001)衬底上的GaAs纳米稳定的分子束外延。在SiO 2掩模中的纳米孔作为GaAs-on-Si选择性面积生长(SAG)的模板,其直径为120nm且≤100nm。我们调查生长参数的影响,包括衬底温度和生长速率在下垂。优化这些参数的优化导致仅在暴露的Si(001)上的Gaasgrowth完全选择性。由于限制 - 几何形状,GaAs纳米轴管中的应变和缺陷受到横向尺寸的限制,并且进一步最小化了表面能。我们通过制造非均相P + -SI / N + -GAAS P-N二极管来评估选择性生成的纳米杆轴的电性能。

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