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【2h】

Probing thermomechanical behavior of polymers at the nanometer scale with single-ion bombardment and scanning force microscopy

机译：用单离子轰击和扫描力显微镜探测纳米尺度聚合物的热机械性能

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作者
R. M. Papaléo; L. D. de Oliveira; L. S. Farenzena; M. A. de Araújo; R. P. Livi;
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年度 2000
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1. Probing thermomechanical behavior of polymers at the nanometer scale with single-ion bombardment and scanning force microscopy [J] . Papaleo RM., Farenzena LS., de Araujo MA., Physical Review, B. Condensed Matter . 2000,第17期

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2. Scan-induced patterning in glassy polymer films: Using scanning force microscopy to study plastic deformation at the nanometer length scale [J] . Schmidt RH., Haugstad G., Gladfelter WL. Langmuir: The ACS Journal of Surfaces and Colloids . 2003,第3期

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4. Nanometer Scale Lithography of SIlicon and Titanium Using Scanning Probe Microscopy [C] . E.Dubois, P.A.Fontaine Proceedings of the 27th European solid-state device research conference . 1997

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