首页> 外文OA文献 >Molecular Beam Scattering Apparatus with Perfect Focusing Mass Spectrometer

【2h】

Molecular Beam Scattering Apparatus with Perfect Focusing Mass Spectrometer

机译：具有完美聚焦质谱仪的分子束散射装置

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
TATSUO ARIKAWA;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 1971
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. Perfect space and time focusing ion optics for multiturn time of flight mass spectrometers [J] . Morio Ishihara, Michisato Toyoda, Takekiyo Matsuo International journal of mass spectrometry . 2000,第0期

机译：完美的时空聚焦离子光学系统，适用于多圈飞行时间质谱仪
2. An indigenous cluster beam apparatus with a reflectron time-or-flight mass spectrometer [J] . G RAINA, G U KULKARNI, R T YADAV Proceedings of the Indian Academy of Sciences . 2000,第2期

机译：带有反射式时空飞行质谱仪的本地簇射束设备
3. An indigenous cluster beam apparatus with a reflectron time-of-flight mass spectrometer [J] . C N R Rao, G Raina, G U Kulkarni, Journal of Chemical Sciences . 2000,第2期

机译：带有反射式飞行时间质谱仪的本地集群束设备
4. Enabling new Applications with Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) equipped with an Add-on Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS) [C] . Michel Aliman, Stefan Meyer, Alexander Laue, American Society for Mass Spectrometry Conference on Mass Spectrometry and Allied Topics . 2012

机译：实现具有配备附加二次离子质谱仪（SIMS）的聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）的新应用
5. Design of a molecular beam apparatus to generate mass selected ion clusters: Infrared absorption of fluoroform in cryogenic solutions. [D] . Cedeno, David Leonardo. 1998

机译：生成质量选择离子簇的分子束装置的设计：低温溶液中氟仿的红外吸收。
6. Rayleigh-scattering microscopy for tracking and sizing nanoparticles in focused aerosol beams [O] . Max F. Hantke, Johan Bielecki, Olena Kulyk, 2018

机译：瑞利散射显微镜用于跟踪和确定聚焦气溶胶束中的纳米粒子
7. Multiscale Investigation of Silicon Anode Li Insertion Mechanisms by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometer Imaging Performed on an In Situ Focused Ion Beam Cross Section [O] . -1

机译：多尺度调查硅阳极Li插入机构通过飞行时间二次离子质谱仪成像成像在原位聚焦离子束截面上进行
8. Understanding the Impact of Field-Emitter Characteristics on Electron Beam Focusing in the VAPoR Time-of-Fight Mass Spectrometer. [R] . Southard, A. E., Getty, S. A., Costen, N. P., 2013

机译：了解场发射器特性对VapoR时间质谱仪中电子束聚焦的影响。

Molecular Beam Scattering Apparatus with Perfect Focusing Mass Spectrometer

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅