机译:用直接检测电子能损光谱直接与氧化物陶瓷中阴离子电导率的晶界缺陷化学的直接相关性
机译:Si基陶瓷中晶界处约1 nm厚非晶膜的电子能量损失谱表征
机译:压力导向晶界工程,传导转变与铯叠铯的电子电导率提高
机译:200 kV和80 kV加速电压下直接检测电子能损光谱的性能评价
机译:超高强度CrMo钢中晶界的电子能损谱研究
机译:原始陨石中细颗粒材料的透射电子显微镜和电子能量损失谱。
机译:直接检测电子能量损失谱:一种突破分辨率和灵敏度极限的方法
机译:直接检测电子能损光谱:低剂量化学映射和原位加热+偏置的应用