机译:用硅漂移检测器(SDD)更换波长分散光谱仪(WDS)中的比例计数器(PC)的原因(SDD)
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散光谱(SEM / SDD-EDS)和NIST DTSA-II对硼化物,碳化物,氮化物,氧化物和氟化物的电子激发X射线定量分析
机译:波长分散X射线光谱仪(WDS)的新寿命:将硅漂移检测器掺入WDS中,以改善量化和X射线映射
机译:开发了用于现场tri探测器的原始实验室原型,该探测器包含与气体比例比例计数器串联安装的PEM电解槽。
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析