首页> 外文OA文献 >A unified system level error model of crosstalk and electromigration for on-chip interconnect

【2h】

A unified system level error model of crosstalk and electromigration for on-chip interconnect

机译：片上互连串扰和电迁移的统一系统级别误差模型

代理获取

本网站仅为用户提供外文OA文献查询和代理获取服务，本网站没有原文。下单后我们将采用程序或人工为您竭诚获取高质量的原文，但由于OA文献来源多样且变更频繁，仍可能出现获取不到、文献不完整或与标题不符等情况，如果获取不到我们将提供退款服务。请知悉。

页面导航

著录项
引文网络
相似文献
相关主题

著录项

作者
Hyeonggeon Lee; Jong Kang Park; Jong Tae Kim;
展开▼
作者单位

展开▼
年度 2017
总页数
原文格式 PDF
正文语种
中图分类

相似文献

外文文献
中文文献
专利

1. A unified system level error model of crosstalk and electromigration for on-chip interconnect [J] . Hyeonggeon Lee, Jong Kang Park, Jong Tae Kim IEICE Electronics Express . 2017,第5期

机译：片上互连的串扰和电迁移的统一系统级误差模型
2. Statistical analysis of crosstalk-induced errors for on-chip interconnects [J] . Computers & Digital Techniques, IET . 2011,第2期

机译：片上互连的串扰引起的错误的统计分析
3. An Explicit Crosstalk Aware Delay Modelling For On-Chip RLC Interconnect for Ramp Input with Skin Effect [J] . Shilpi Lavania, Vikas Maheshwari International Journal of Engineering Research and Applications . 2011,第4期

机译：具有趋肤效应的斜坡输入的片上RLC互连的显式串扰感知延迟建模
4. Burst Error Detection Hybrid ARQ with Crosstalk-Delay Reduction for Reliable On-chip Interconnects [C] . Fu Bo, Ampadu Paul Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 2009. DFT '09 . 2009

机译：具有串扰延迟减少功能的突发错误检测混合ARQ，可实现可靠的片上互连
5. Crosstalk-aware multiple error control for reliable on-chip interconnects. [D] . Fu, Bo. 2010

机译：串扰感知多重错误控制，可实现可靠的片上互连。
6. Development of a Non-Invasive On-Chip Interconnect Health Sensing Method Based on Bit Error Rates [O] . Insun Shin, Kyoungmin Koo, Daeil Kwon 2018

机译：基于误码率的非侵入式片上互连健康感测方法的开发
7. Burst Error Detection Hybrid ARQ with Crosstalk-Delay Reduction for Reliable On-Chip Interconnects [O] . Bo Fu, Paul Ampadu 2014

机译：突发错误检测混合aRQ，具有可靠的片上互连的串扰延迟降低

A unified system level error model of crosstalk and electromigration for on-chip interconnect

著录项

引文网络

相似文献

相关主题

期刊订阅