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In-Operando X-ray diffraction imaging of thermal strains in fully packaged silicon devices

机译：完全包装硅装置中热菌株的Outmando X射线衍射成像

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B.K. Tanner; R.K. Vijayaraghavan; B. Roarty; A.N. Danilewsky; P.J. McNally;
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年度 2019
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