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机译:C1.2 - 通过限制粒子提高尺寸尺寸精度的暗场粒子跟踪
C. Haiden; F. Keplinger; T. Wopelka; M. Jech; J. Vellekoop;
机译:限制在微流控薄膜中的金属纳米粒子的尺寸调整,应用暗场粒子跟踪
机译:用于等离子体和非等离子体粒子尺寸表征的暗场纳米粒子跟踪分析
机译:准二维约束布朗回旋镖胶体颗粒的高精度跟踪
机译:通过限制粒子提高尺寸精度的暗场粒子跟踪
机译:使用MRI和CFD对速度进行定量并跟踪微米级颗粒。
机译:使用暗场显微镜确定纳米粒子的数量浓度和粒径分布
机译:低放大暗域显微镜下的可扩增纳米颗粒增强定量散射测定
机译:低放大倍数暗场显微镜下可放大的纳米粒子增强的散射分析
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