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【2h】

Object size effect on the contact potential difference measured by scanning Kelvin probe method

机译：对象尺寸对通过扫描kelvin探针方法测量的接触电位差的影响

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B. Polyakov; R. Krutokhvostov; A. Kuzmin; E. Tamanis; I. Muzikante; I. Tale;
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年度 2010
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1. Object size effect on the contact potential difference measured by scanning Kelvin probe method [J] . Polyakov B., Krutokhvostov R., Kuzmin A., The European physical journal. Applied physics . 2010,第2期

机译：物体尺寸对通过扫描开尔文探针法测量的接触电势差的影响
2. Contact Potential Difference of Au/TiO2(110) Model Catalysts Measured by Kelvin Probe Force Microscopy [J] . Yasushi Maeda, Masanori Kohyama Transactions of the Japan Society for Computational Engineering and Science . 2012,第1期

机译：用开尔文探针力显微镜测量的Au / TiO2（110）模型催化剂的接触电势差
3. Real versus measured surface potentials in scanning Kelvin probe microscopy [J] . Charrier D.S.H., Kemerink M., Smalbrugge B.E., ACS nano . 2008,第4期

机译：扫描开尔文探针显微镜中的实际表面电位与测量的表面电位
4. Improving the Relative Calculations of Volta Potential Differences Acquired from Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (SKPFM) from Comparing an Inert Material to First-Principle Calculations [C] . C. M. Efaw, T. da Silva, P. H. Davis, Meeting of the Electrochemical Society . 2018

机译：改善从扫描开尔文探针显微镜（SKPFM）获得的Volta电位差异的相对计算将惰性材料与第一原理计算的比较
5. Analysis of non-contact and contact probe-to-sample thermal exchange for quantitative measurements of thin film and nanostructure thermal conductivity by the scanning hot probe method. [D] . Wilson, Adam A. 2017

机译：通过扫描热探针法对非接触式和接触式探针与样品之间的热交换进行分析，以定量测量薄膜和纳米结构的热导率。
6. Electrical Potential of Acupuncture Points: Use of a Noncontact Scanning Kelvin Probe [O] . Brian J. Gow, Justine L. Cheng, Iain D. Baikie, 2012

机译：穴位的电势：使用非接触式扫描开尔文探针
7. Effect of dopant density on contact potential difference across n-type GaAs homojunctions using Kelvin Probe Force Microscopy [O] . C. Kameni Boumenou, Z.N. Urgessa, S.R. Tankio Djiokap, 2018

机译：掺杂剂密度对使用开尔文探针力学显微镜的N型GaAs同性记触电电位差的影响

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