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【2h】

S9000X - Next Generation of Ultra-High Resolution SEM for Enhanced Analysis and Xe Plasma FIB for Ultra-Fast and Gentle Sputtering

机译：S9000x - 下一代超高分辨率SEM，用于增强分析和XE等离子FIB，用于超快速和温和的溅射

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Miloslav Havelka; Jaroslav Jiruse; Tomas Hrncif; Rostislav Vana; Samuel Zachej;
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年度 2018
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