机译:闪存中等离子体氮化氧化物栅电介质电性能的研究
机译:通过使用扫描非线性介电显微镜检测高阶非线性介电常数来可视化位于金属氧化物-氮化物-氧化物-半导体-闪存薄膜中的电子
机译:通过扫描非线性介电显微镜可视化位于金属氧化物-氮化物-氧化物-半导体型闪存中的薄栅膜中的电子和空穴
机译:闪存中氮化等离子体栅电介质的电学特性研究
机译:ALD二氧化锆栅极电介质的材料和电性能。
机译:CF4等离子体处理HfO2栅电介质的非晶铟镓锌氧化物薄膜晶体管的电性能和可靠性提高
机译:具有氧化物/氮化物/氧化物堆叠栅极电介质和纳米线通道的非易失性多晶硅薄膜晶体管存储器