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机译:Cu-Zn-Al和Cu-Al的单晶中电阻率的行为
C. H. Gonzalez; M. Morin; G. Guénin;
机译:应力作用下Cu-Zn-Al和Cu-Al-Be单晶的电阻率行为
机译:Cu-Al-Be形状记忆单晶中应力诱导的马氏体相变和相稳定性
机译:Cu-Al-Be多晶和单晶形状记忆合金中马氏体相变的应力分析
机译:Cu-Al的新应力诱导的马氏体变换单晶
机译:某些高电阻率的钛铝和钒铝合金的电阻率异常
机译:单晶银的杂质掺杂导致电阻率异常下降
机译:铜基形状记忆单晶上的应力应变和电阻率耦合测量
机译:变形对钼单晶电阻率的影响
机译:具有形状记忆的Cu-ZN-Al合金单晶的制备
机译:通过区域拉制从硅制造单晶包括:用掺杂材料掺杂单晶并产生单晶的纵向截面,其中单晶具有恒定的电阻率
机译:单晶硅的制造方法,单晶硅制造装置以及单晶硅的电阻率分布的计算方法
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