机译:氢离子植入剂剂量对智能切割工艺制造的Ge-Insulator层的物理和电性能的影响
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机译:宽剂量范围内注入Er和氧离子并在不同温度条件下进行热处理的硅层的电性能
机译:氢注入制备的Si:H / p-Si结构的电学性质
机译:氢离子注入剂量对通过智能切割技术制备的绝缘体上锗基衬底特性的影响
机译:化学计量和氢含量对硅和二氧化硅上氮化硅和氧氮化物层的物理和电学性质的影响的研究
机译:溶液法制备双层ZnO / In2O3薄膜晶体管的电学特性研究
机译:剂量对si上3C-siC中氮注入物理和电学性质的影响
机译:硅和砷化镓中离子注入层的电学特性,