首页> 外文OA文献 >Феноменологічний підхід до аналізи радіяційних ефектів при проєктуванні субмікронних структур біполярних ІС
【2h】

Феноменологічний підхід до аналізи радіяційних ефектів при проєктуванні субмікронних структур біполярних ІС

机译:双极集成电路亚微米结构设计中辐射效应分析的现象学方法

摘要

При взаємодії корпускулярного і електромагнетного випромінення з твердим тілом (структурою ІС) відбувається пересилання енергії останньому, вudрезультаті чого змінюються його властивості. Характер взаємодії і ефекти,udщо при цьому виявляються, в загальному випадку визначаються видом випромінення, його енергією та інтенсивністю, видом структур ІС, які приudцьому опромінюються. Дані радіяційні дослідження можуть лягти в основуudпобудови радіяційно-тривкої технології для формування як біполярних,udтак і польових структур ІС. Детально проаналізовано радіяційні ефекти вudструктурах із субмікронними глибинами залягання p—n-переходів та з ізопланарною діелектричною ізоляцією.
机译:当微粒和电磁辐射与固体(IC的结构)相互作用时,能量会转移到后者,结果其属性会改变。相互作用的性质以及在这种情况下检测到的效果通常取决于辐射的类型,辐射的能量和强度,所辐射的IP结构的类型。这些辐射研究可以为构建IP的双极结构和场结构的抗辐射技术奠定基础。详细分析了具有p – n结亚微米深度和等平面电介质隔离的结构中的辐射效应。

著录项

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号