2D3V численное моделирование неустойчивости цилиндрического релятивистского электронного пучка в плазме

摘要

Рассматривается новый механизм возникновения пучково-плазменной неустойчивости, обусловленный, из-за различия продольной и поперечной масс релятивистских электронов, не продольной модуляцией цилиндрического релятивистского электронного пучка в плазме, а его разбиением на сгустки за счет дефокусировки электронов радиальным полем возбуждаемой волны и ухода их из области взаимодействия с волной. Проведено 2d3v-моделирование модуляции непрерывного пучка на этом механизме и нарастание возбуждаемого поля плазменной волны. Исследовано формирование последовательности релятивистских электронных сгустков из плотного непрерывного пучка. Показана также возможность получения профилированной последовательности сгустков из длинного электронного сгустка с линейно нарастающей плотностью.