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【2h】

Heavy Ion Radiation Effects on Hafnium Oxide-Based Resistive Random Access Memory

机译：对氧化铪基电阻随机存取存储器的重离子辐射效应

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Stefan Petzold; S. U. Sharath; Jonas Lemke; Erwin Hildebrandt; Christina Trautmann; Lambert Alff;
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年度 2019
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